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涂镀层测厚仪中F,N以及FN的区别

      镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

涂镀层测厚仪中F,N以及FN的区别:

F代表ferrous 铁磁性基体,F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理, 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
N代表Non- ferrous非铁磁性基体,N型的涂层测厚仪采用电涡流原理;来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理,又采用采用电涡流原理,是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。用途见上。如CM8825F是指只有一个F探头的磁性测厚仪;
CM8826FN是指带有两个探头的磁性和涡流两用型二合一涂层测厚仪。

除了以上产品外,公司同时还在销售里氏硬度计、漆膜测厚仪等产品,我们公司具备有蕞实战的技术,专业的运营团队,为您创造以用户体验为前提的服务,服务的至善至美是我们永无止境的追求。因为以民为本,所以值得信赖;因为专业专职,所以值得选择.以上信息仅供参考,详情请致电相关工作人员为您解答。
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