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镀层测厚仪使用性能

镀层测厚仪使用性能;


1. 测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上**能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;
  3. 稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;
  4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法 覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用*广泛的测厚仪器。 采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。

    尊敬的览客:您好!欢迎您光临我公司网站, 目前您所在的位置是我司的镀层测厚仪产品页面, 此页面的介绍较为简单,如果你想更加详细的了解该产品参数,温馨提醒您:可通过查看其它页面或留言或电话的方式跟我们取得联系来进一步的了解相关产品信息,我们期待您的来电。

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