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产品[

涂层测厚仪

]资料
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产品名称: 涂层测厚仪
产品型号: MiniTest1100/2100/3100/4100
产品展商: 其它品牌
简单介绍
涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪特点: MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能; 所有型号均可配所有探头; 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机; 可使用一片或二片标准箔校准。


涂层测厚仪的详细介绍

涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100    
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。
   

MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
-
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
-
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
-
-
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
-
-
-
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
-
-
显示并打印测量值、打印的日期和时间
-
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机进行基础校准
补偿一个常数(Offset)
-
-
外设的读值传输存储功能
-
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置极限值
-
-
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别蕞大蕞小值
-
-
连续测量模式中测量稳定后显示读数
-
-
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示
-
连续测量模式中显示蕞小值

可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择蕞适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头
量程
低端
分辨率
误差
蕞小曲率
半径(凸/凹)
蕞小测量
区域直径
蕞小基
体厚度
探头尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

探头图示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度


F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等


F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

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