测量 |
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的**延迟到**个回波之间的时间间隔。 |
自动回波到回波(可选) | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。 |
穿透涂层测量 (可选) | 利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头) |
单晶探头测量模式(可选) | 模式1:激励脉冲与**个底面回波之间的时间间隔。 模式2:延迟块回波与**个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头) 模式3:在激励脉冲之后,位于**个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)。 |
厚度范围 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量*全的范围需要使用单晶选项) |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可选择) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 标准分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 单晶选项:0.001毫米(0.0001英寸) |
探头频率范围 | 标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |