鍍層測厚儀覆層厚度的測量方法
鍍層測厚儀覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。鍍層測厚儀這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用*廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。
除了以上產品外，公司同時還供應有洛氏硬度計、
粗糙度儀等產品，我們公司具備有*實戰的技術,專業的運營團隊,為您創造以用戶體驗為前提的服務，服務的至善至美是我們永無止境的追求。因為以民為本，所以值得信賴；因為專業專職，所以值得選擇.以上信息僅供參考，詳情請致電相關工作人員為您解答。
